椭圆形夹杂对超导体内临界电流密度的影响
  

编号:99-584639 | DOC格式 | 671.50K | 31 页

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原文档由会员 红提很好吃 发布

椭圆形夹杂对超导体内临界电流密度的影响


1.18万字 31页 原创作品,通过查重系统


I.
摘 要
提出了一套研究高温超导体裂纹尖端临界电流奇异性以及俘获磁场减小这一问题的理论方法。首先针对比较常见的含中心椭圆孔洞的长圆柱形超导体,通过复变函数和保角变换的方法将问题简化为一个轴对称问题。基于临界态Bean 模型讨论了临界电流集中性随椭圆孔洞形状因子的变化关系,并得到了线型裂纹尖端的临界电流奇异性。其中Bean 模型的结果仅由裂纹尺寸a 以及临界电流密度 决定,因而 具有一定普适性。


关键词:第二类超导体,Bean模型,电流密度强度因子,电流奇异性


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